专利名称：宽温域磁通温度特性测量装置及方法
专利(申请)号：CN201810453002.4
申请日期：2018-05-11
授权日期：2024-11-08 00:00:00
发明人：孙颖莉; 刘雷; 赵江涛; 张鑫; 李东; 闫阿儒
其他发明人：
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所